Ier dësee Status de Factelauret, muss et sech op eng professionant Bewäertung an testareabit (Final Test (finalen Test ze ginn. E grousse Package & Test Fabréck Honnerte oder Dausende vun Testmaschinnen, Chips an der Testmaschinn fir héich an niddregem Temperaturinspektioun ze maachen, gëtt nëmmen den Test Chip.

Den Chip muss de Betribsstaat op enger héijer Temperatur vun méi wéi 100 Grad Celsius sinn, an d'Testmaschinn reduzéiert d'Temperatur fir d'Temperatur fir d'Temperatur ze sinn. Well Blummen kaus folken sou séier klappen, flübendem Nagumen ze liwweren deen se mat Vabel Däipt ​​droen fir et a Phasen ze liwweren an der Phas Siidator fir et ze liwweren.

Dësen Test ass entscheedend fir semicenductor Chips. Wéi eng Roll huet d'Applikatioun vum Semikondantor Chip héich an niddregem Temperatur Wäiss Hitf Chamba am Testprozess?

1. Zouverlässegkeet Bewäertung: Héich an niddregem Temperaturn an Thermal Tester kënnen d'Benotzung vu Semikregender Chips ënnersträichen, naassemechuewen oder naassenem. Duerch Explitter vun dëse Bedéngungen vun dëse Bedéngungen ze diskutéieren ass et méiglech d'Zouverlässegkeet vum Chip ze bewäerten während laangfristeg Benotzung a bestëmmte Ëmfeld.

2. Performance Analyse: Ännerungen an der Temperatur a Fiichtegkeet kann d'elektresch Charakteristiken a Leeschtung vun Halleffebifter Chips beaflossen. Héich an aner formelle Ëmstänne ginn als Referenz fir de Chriiichte vum Chal-Utité an flotte Fäegkeeten, inklusiv änneren, aktuell Verben 2013 fir d'Äntwerte Firzbegrëffung.

3. Haltbarkeet Analyse: D'Expansioun an Kontraktiounsprozess vum Hallefieler-Chips vun der Pensioun vun de Verzeechnungsberechnelen a Mier Hëtzt Hëtzt Zëmmert, a Solidatur Probleemer ze hunn. Héich an niddregem Temperaturne naass an thermesch Tester kënnen dës Stress an Ännerungen simuléieren an hëllefen d'Haltbarkeet an der Stabilitéit vum Chip. Wann Dir Chamradéierung ënner 2Kreschadsadrutifikatioune muss identifizéiert kënne ginn, da kënne potenziell Problemer an den Design identifizéiert ginn an en neit Intresse verbessert ginn.

4. Qualitéitskontroll: Héich an niddregem Temperaturen an Thermal Test gëtt wäit benotzt an der Qualitéitskontrollprozess vum Semikondhips Chips. Duerch déi strikt Temperatur a Fiichtegkeet Zyklus Test vum Chip, deen den Chip net erfëllt datt d'Ufuerderunge net agreabel kënne ginn fir d'Konsistenz an Zouverlässegkeet vum Produkt ze garantéieren. Mat engem hëllefen sech defreitiven Nazifizéieren an den Ënnerangee vum Programm ze reduzéieren an d'Qualitéit an Zouverluel vum Produkt ze verbesseren.

Hl cryenogen Ausrüstung

HL Cryogenic Equipement déi am 1992 gegrënnt gouf, ass eng Mark mat HL Creyogeneschen Ausrüstungsfirma Cryogen Acquision Co., LTD. HM D'Caluzongesetz ass un den Design an der Fabrikatioun vum Haff ofginn. De Vakuum beleideguléiert Päif, flësseg Ehylylen Gasse gebraucht an engem Héierendeluecht a Multipenzmodus, an Ausstandsbänner, an Dachbetreiungsformel, a Flichtungen Arrivementer, flëssegem Arrivatiounen

D'Produktioun, an d'Produktioun si gewielt fir kräizoogesch Ausbildung a Phasenoff-Fliger an de kräistesche Fillt Elektrononikon, Supercoulususe, MBIPS, Apdikt, Biobank / Cellbank, Iessen & Gedrénks, an der Wëssenschaftssprooch.